Rasterkraftmikroskope

Rasterkraftmikroskope (AFMs) sind Messsonden mit denen man Proben mit höchster Auflösung untersuchen kann. Hierzu stehen mehrere Messvarianten zur Verfügung, mit denen unterschiedliche Probeneigenschaften bestimmt werden können. Ergänzend dazu sind auch verschiedene Messspitzen erhältlich, die je nach Aufgabenstellung eingesetzt werden.

Im Unterschied zu unseren anderen Sensoren benutzen Rasterkraftmikroskope bei Verwendung in den FRT Geräten nicht den xy-Tisch des Messgerätes zum Abrastern der Probe, sondern sie verwenden einen eingebauten Piezoscanner mit elektronischer Linearisierung, der Ortsauflösungen bis in den Nanometerbereich ermöglicht. Es sind zur Zeit drei verschiedene Messköpfe der Rasterkraftmikroskope verfügbar, die sich im maximal möglichen Messbereich unterscheiden.

Unsere Rasterkraftmikroskope können an dem FRT MicroGlider® oder dem FRT MicroProf® neben dem optischen Sensor montiert werden, so dass eine Probe mit beiden Sensoren abwechselnd untersucht werden kann. Der Wechsel der Messposition zwischen den Sensoren wird dadurch sehr einfach, dass dem System der Abstand zwischen dem AFM und dem optischen Sensor bekannt ist. Damit ist die Auffindbarkeit einer Messstelle im AFM jederzeit gewährleistet. Dies stellt bei konventionellen AFMs ein großes Problem dar. Nach der Positionierung der Probe mit dem xy-Tisch wird dieser deaktiviert, um störungsfreie Messungen mit dem AFM zu ermöglichen. Die Annäherung des AFM an die Probe geschieht dann vollautomatisch.

Die Basisausführung der Rasterkraftmikroskope beinhaltet den contact-mode, bei dem die Messspitze bei konstanter Auslenkung (d.h. konstanter Kraft) über die Probe geführt wird. Die Messung der Auslenkung geschieht über ein optisches Interferometer.

Optional sind folgende Zusatzmodule für die Rasterkraftmikroskope erhältlich:

• Berührungsloser Modus
• Magnetische/Elektrostatische Kraft
• Elastizitätsmodus
• Reibungsmodus
• Kelvin Probe
• AFAM zur Bestimmung elastischer Eigenschaften und Härte
• Für besonders hohe Genauigkeitsanforderungen bei Höhenmessungen ist auch ein Messkopf mit zusätzlichem Messsystem zur Linearisierung der Z-Achse erhältlich.
• Für spezielle Anwendungen sind Rasterkraftmikroskope auch in einer wasserdichten sogenannten flüssigkeitskompatiblen Variante erhältlich. Dies erlaubt AFM Untersuchungen auch in Wasser und wässrigen Lösungen.
  
   

Für weitere Informationen über
das Rasterkraftmikroskop von FRT